Lateral Mode Tuning in Coupled Ridge Waveguides Using Focused Ion Beam

Autor:	Mikhail V. Maximov, A. A. Serin, G. V. Voznyuk, A. S. Payusov, M. I. Mitrofanov, M. M. Kulagina, G. O. Kornyshov, N. Yu. Gordeev, V. P. Evtikhiev
Rok vydání:	2020
Předmět:	010302 applied physics Materials science Ridge waveguides business.industry Mode (statistics) 02 engineering and technology 021001 nanoscience & nanotechnology Condensed Matter Physics Laser 01 natural sciences Focused ion beam Atomic and Molecular Physics and Optics Electronic Optical and Magnetic Materials Ion law.invention Etching (microfabrication) law 0103 physical sciences Optoelectronics 0210 nano-technology business
Zdroj:	Semiconductors. 54:1811-1813
ISSN:	1090-6479 1063-7826
DOI:	10.1134/s1063782620140237
Popis:	We present an approach for the treatment of coupled-ridge lasers using focused ion beam⁠ (FIB) etching. We show experimentally that the FIB etching allows post-processing lateral mode tuning without deterioration of the main laser parameters.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6fdbf7688246b0e32b5970470ad3263c https://doi.org/10.1134/s1063782620140237 Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu PDF Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.