Monitoring the Conductivity of Thin Metal Layers During the Processes of Grain-growth and Dewetting, Using a Desktop FEG-SEM
| Autor: | M Griebling, Jja Vermeulen, Hendrik Willem Zandbergen, VM Santos Costa, AC Bouman, L Lammers, Afj Hammen, Jga Vervloat, J.W. Jansen |
|---|---|
| Rok vydání: | 2020 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 26:1456-1457 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|