Response Mechanisms of Additional Displacement Defects in Oxides to Ionization Damage in Bipolar Transistors
Autor: | Enhao Guan, Zhongli Liu, Tao Ying, Yadong Wei, Yubao Zhang, Xiuhai Cui, Gang Lv, Weiqi Li, Jianqun Yang, Xingji Li |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | IEEE Transactions on Nuclear Science. 70:768-773 |
ISSN: | 1558-1578 0018-9499 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |