A nanoclustered ceria abrasives with low crystallinity and high Ce3+/Ce4+ ratio for scratch reduction and high oxide removal rates in the chemical mechanical planarization

Autor: Na-Yeon Kim, Goeun Kim, Hanna Sun, Uiseok Hwang, Junyoung Kim, Donggeon Kwak, In-Kyung Park, Taesung Kim, Jonghwan Suhr, Jae-Do Nam
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Journal of Materials Science. 57:12318-12328
ISSN: 1573-4803
0022-2461
DOI: 10.1007/s10853-022-07338-x
Databáze: OpenAIRE
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje