Probe Optimization studies For High current Focused Ion Beam Instruments
Autor: | Kevin D. Johnson, John Richards, Srinivas Subramaniam |
---|---|
Rok vydání: | 2015 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 21:1841-1842 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |