Autor:	Soumya Mittal, Szczepan Urban, Kun Young Chung, Jakub Janicki, Wu-Tung Cheng, Martin Parley, Manish Sharma, Shaun Nicholson
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Test Conference (ITC).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6b1a23d132da97e143d96b522bcf36eb https://doi.org/10.1109/itc50671.2022.00049 Zobrazit plný text záznamu