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Resume Introduction L’alignement des membres inferieurs (MI) chez l’enfant est traditionnellement evalue cliniquement ou par radiologie conventionnelle, ce qui est sujet a des biais de projection. Recemment, la radiographie biplanaire a faible dose a ete decrite comme une alternative aux procedures conventionnelles. Le premier objectif de cette etude etait d’evaluer la fiabilite des parametres angulaires et de longueur deduits des reconstructions 3D chez les enfants dans la pratique clinique quotidienne. Le second, de fournir des valeurs de reference de differents parametres de goniometrie chez l’enfant. L’hypothese principale etait que les reconstructions 3D soient utilisables pour caracteriser les membres inferieurs de l’enfant. Materiel et methode Pour l’etude de fiabilite, 18 enfants volontaires ont ete inclus et divises en 3 groupes : « typically developing » (TD), anomalie du developpement orthopedique, et paralyses cerebraux. Pour les donnees de reference, seuls des patients TD (n = 129) ont ete consideres. Ils ont tous eu une radiographie biplanaire avec des reconstructions 3D, effectuees par des experts et par des techniciens de radiologie. Les parametres de goniometrie etaient automatiquement calcules. La reproductibilite a ete etudiee par le coefficient de correlation intra-classe (ICC), et la Norme ISO 5725 (ecart-type de reproductibilite : ETr). Resultats Pour les parametres de longueur, l’ICC etait entre 0,94 et 1,0 et l’ETr entre 2,1 et 3,5 mm. Pour les parametres angulaires, ICC et ETr etaient respectivement entre 0,60 et 0,95, 0,9° et 4,6°. Aucune difference significative n’a ete trouvee entre les experts et les techniciens de radiologie. Les donnees de reference sont rapportees en fonction de l’âge. Discussion Ces resultats confirment la fiabilite de la radiographie biplanaire a faible dose pour l’evaluation des parametres des MI chez les enfants en routine clinique. Il donne egalement des valeurs des parametres frequemment mesures qui constituent une base de donnees de reference. Niveau de preuve IV. |