Optimization of 3D EBSD in a FIB-SEM System Using a Static Sample Setup

Autor:	D. Goran, Julien Guyon, Smail Chalal, Nathalie Gey, Fabian Perez-Willard
Rok vydání:	2015
Předmět:	Materials science Metallurgy Instrumentation Sample (graphics) Electron backscatter diffraction
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 21:2035-2036
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927615010958
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::69afd7d6244255222f111b8774ee1dac https://doi.org/10.1017/s1431927615010958 Zobrazit plný text záznamu