The role of copper as an impurity in high resistivity cadmium telluride and its influence on γ-ray spectrometer performance
Autor: | J. E. Nicholls, D. H. J. Totterdell, R. M. Bilbé, B. Lunn |
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Rok vydání: | 1984 |
Předmět: | |
Zdroj: | Physica Status Solidi (a). 86:821-826 |
ISSN: | 1521-396X 0031-8965 |
DOI: | 10.1002/pssa.2210860243 |
Popis: | Thermally stimulated current measurements on high resistivity CdTe:Cl show the presence of a deep hole trap, with an activation energy of EV + 0.33 eV, that notably degrades γ-ray spectrometer performance. The trap is associated with copper impurities that are gettered by tellurium inclusions and are subsequently released during low temperature annealing of the material. Messungen thermisch induzierter Strome an hochohmigem CdTe:Cl ergibt die Anwesenheit einer tiefen Locherhaftstelle, mit einer Aktivierungsenergie von EV + 0,33 eV, die merklich den Wirkungsgrad des γ-Spektrometers verringert. Die Haftstelle ist mit Kupferverunreinigungen verknupft, die durch Tellureinschlusse gegettert werden und anschliesend wahrend der Niedertemperaturtemperung des Materials befreit werden. |
Databáze: | OpenAIRE |
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