Test des circuits intégrés numériques - Conception orientée testabilité

Autor:	Mounir BENABDENBI, Régis LEVEUGLE
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Électronique.
DOI:	10.51257/a-v2-e2461
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::695391005f4b3e1bb1d39c40fb237304 https://doi.org/10.51257/a-v2-e2461 Zobrazit plný text záznamu