Reliability Evaluations of SiCr Resistors in BCD IC Technologies

Autor:	M. Ring, K.A. Stewart, R.C. Jerome, A. Hasegawa, J.P. Gambino, D.T. Price
Rok vydání:	2021
Zdroj:	2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::67f1ce6a39230912168df6ecdc8b62a4 https://doi.org/10.1109/iirw53245.2021.9635623 Zobrazit plný text záznamu