Structural and electrical characteristics of ultra-thin Si-doped GaN film regrown on patterned GaN/sapphire
Autor: | Jaehyeok Shin, Siyun Noh, Jinseong Lee, Jin Soo Kim, Ilgyu Choi, Ho-Kyun Ahn |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of the Korean Physical Society. |
ISSN: | 1976-8524 0374-4884 |
DOI: | 10.1007/s40042-023-00799-6 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |