Design for Testability Methods for Detecting Resistive Opens at Chip Interconnects

Autor:	Hiroyuki Yotsuyanagi
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 26:198-202
ISSN:	1884-121X 1343-9677
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::66d02a259519d59b369e27b0ff8e171a https://doi.org/10.5104/jiep.26.198 Zobrazit plný text záznamu