LCD Glass Defect Inspection Using a Digital Holographic Microscope
Autor: | Younghun Yu, Sanghoon Shin |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | New Physics: Sae Mulli. 69:1299-1302 |
ISSN: | 2289-0041 0374-4914 |
DOI: | 10.3938/npsm.69.1299 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |