Temperature-Dependent Effect of Near-Interface Traps on SiC MOS Capacitance
Autor: | Yifan Jia, He Yanjing, Yuming Zhang, Ci-Qi Zhou, Tang Xiaoyan |
---|---|
Rok vydání: | 2018 |
Předmět: | |
Zdroj: | Chinese Physics Letters. 35:107301 |
ISSN: | 1741-3540 0256-307X |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |