Analysis of the Fit and Pattern Size of Ready-to-wear Slim-fit Jeans for Upper Grade Elementary School Girls

Autor:	Hea suk Kim, Jeong yim Lee
Rok vydání:	2020
Předmět:	Pattern size Statistics Ready-to-wear Mathematics
Zdroj:	Fashion & Textile Research Journal. 22:357-367
ISSN:	2287-5743 1229-2060
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::649db0cdeeb9cbce5ac4da1bd4a11734 https://doi.org/10.5805/sfti.2020.22.3.357 Zobrazit plný text záznamu