P‐103: Non‐Destructive FMM Shadow‐Level Evaluation with Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy

Autor:	Junghan Shin, Ahn Nari, Young-Gil Park, Ki Young Yeon, Woo-Young Lee
Rok vydání:	2021
Předmět:	Fluorescence-lifetime imaging microscopy Materials science Optics business.industry Non destructive Shadow business
Zdroj:	SID Symposium Digest of Technical Papers. 52:1466-1469
ISSN:	2168-0159 0097-966X
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::633e9cf733ddbbc6b74df6c1ba65716f https://doi.org/10.1002/sdtp.14986 Zobrazit plný text záznamu Plný text