Q.U.A.I.N.T.P.E.A.X. QUantifying Algorithmically INTrinsic Properties of Electronic Assemblies via X-ray CT

Autor:	Navid Asadi, John True, Nathan Jessurun, Dhwani Mehta
Rok vydání:	2021
Předmět:	Electronic assemblies Crystallography Materials science X-ray Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 27:1222-1225
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927621004591
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::62078c0d5e315f7ef80d5e98f9469b9d https://doi.org/10.1017/s1431927621004591 Zobrazit plný text záznamu