Small-area fault clusters and fault tolerance in VLSI circuits

Autor:	C. H. Stapper
Rok vydání:	1989
Předmět:	General Computer Science
Zdroj:	IBM Journal of Research and Development. 33:174-177
ISSN:	0018-8646
DOI:	10.1147/rd.332.0174
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::61ef993174f675b47048701f9a389f0d https://doi.org/10.1147/rd.332.0174 Zobrazit plný text záznamu