Digital twin-based research on the prediction method for the complex product assembly abnormal events
Autor: | Yunrui Wang, Wenzhe Ren, Yan Li |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | International Journal of Computer Integrated Manufacturing. 34:1382-1393 |
ISSN: | 1362-3052 0951-192X |
DOI: | 10.1080/0951192x.2021.1972464 |
Popis: | The emergence of abnormal events (e.g. personnel abnormalities, equipment failures, etc.) on the assembly floor of complex products can seriously affect normal assembly progress. In response to the... |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |