Gauging Biases in Various Deep Learning AI Models

Autor: N. Tellez, J. Serra, Y. Kumar, J. J. Li, P. Morreale
Rok vydání: 2022
Zdroj: Lecture Notes in Networks and Systems ISBN: 9783031160745
DOI: 10.1007/978-3-031-16075-2_11
Databáze: OpenAIRE