Surrogate-Based Modeling Techniques for Mapping Transistor Figures of Merit onto Compact Model Parameters
Autor: | Fabio A. Velarde Gonzalez, Jose L. Chavez-Hurtado, Andre Lange, Thomas Mikolajick |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |