Bond Quality Inspection of Bonded Surfaces using Microwave NDE
Autor: | Asha Gokul, K. Srinivas, and J. Dhanasekaran |
---|---|
Rok vydání: | 2019 |
Předmět: | |
Zdroj: | International Journal of Advances in Microwave Technology. :213-217 |
ISSN: | 2456-4346 |
DOI: | 10.32452/ijamt.2019.213217 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |