Bond Quality Inspection of Bonded Surfaces using Microwave NDE

Autor: Asha Gokul, K. Srinivas, and J. Dhanasekaran
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: International Journal of Advances in Microwave Technology. :213-217
ISSN: 2456-4346
DOI: 10.32452/ijamt.2019.213217
Databáze: OpenAIRE