Electron Beam Devices for Materials Processing and Analysis

Autor:	H. W. P. Koops, J. Gstöttner, S. W. Schulz, O. Röder, Andrzej G. Chmielewski, G. Mattausch, U. Gohs, A. Reichmann, H. Bluhm, B. Han, O. Zywitzki, H. Morgner, D. von Dobeneck, B. Wenzel
Rok vydání:	2008
Předmět:	Spherical aberration Optics Materials processing Materials science Ion beam business.industry Chromatic aberration Cathode ray business
Zdroj:	Vacuum Electronics ISBN: 9783540719281
DOI:	10.1007/978-3-540-71929-8_4
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5b989552632e659ceaf45b9a43c0e672 https://doi.org/10.1007/978-3-540-71929-8_4 Zobrazit plný text záznamu