Real-Time Electron Counting for Continuous TEM Imaging of Sensitive Samples

Autor:	Ben Miller, Stephen E. Mick, Anahita Pakzad
Rok vydání:	2019
Předmět:	Materials science Optics business.industry Electron counting business Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 25:1718-1719
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927619009322
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5a4551957f889d373855837fecb147fc https://doi.org/10.1017/s1431927619009322 Zobrazit plný text záznamu