Stress-Depth Profiles in Magnetron Sputtered Mo Films Using Grazing Incidence X-ray Diffraction (Gixd)

Autor:	B. L. Ballard, P. K. Predecki, D. N. Braski
Rok vydání:	1994
Zdroj:	Advances in X-Ray Analysis ISBN: 9781461360773
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::59633cb85875868f7f5584d8b8dec996 https://doi.org/10.1007/978-1-4615-2528-8_25 Zobrazit plný text záznamu