Time, Memory and Accuracy Tradeoffs in Side-Channel Trace Profiling

Autor:	Hen Hayoon, Yossi Oren
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Cyber Security, Cryptology, and Machine Learning ISBN: 9783031076886
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::58320ea4e649a1b57be14e8d53269c78 https://doi.org/10.1007/978-3-031-07689-3_3 Zobrazit plný text záznamu