Autor:	Fabio A. Velarde Gonzalez, Andre Lange, Talha Chohan, Thomas Mikolajick
Rok vydání:	2021
Zdroj:	2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::582a87c90b83629965dd9d47bd8acb2f https://doi.org/10.1109/iirw53245.2021.9635622 Zobrazit plný text záznamu