A Novel Method of Test Case Generation for Embedded Software
Autor: | Shuai-Shuai Yang, Bin Liu, Yu Zhengwei, Wu Yumei |
---|---|
Rok vydání: | 2017 |
Předmět: | |
Zdroj: | Computer Science and Artificial Intelligence. |
DOI: | 10.1142/9789813220294_0099 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |