Autor:	Leopold Palmetshofer
Rok vydání:	2011
Předmět:	Ion beam analysis Materials science Monolayer Analytical chemistry Atomic composition Thin film Spectroscopy
Zdroj:	Surface and Thin Film Analysis: A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications, Second Edition
DOI:	10.1002/9783527636921.ch11
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5437bb66476e2699a5c849eaf801572a https://doi.org/10.1002/9783527636921.ch11 Zobrazit plný text záznamu