Investigation of the threshold voltage instability in normally-off p-GaN/AlGaN/GaN HEMTs by optical analysis
Autor: | Xi Tang, Huan Wang, Baikui Li, Fengwei Ji, Hui Li, Yuhan Liu |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Japanese Journal of Applied Physics. 60:104001 |
ISSN: | 1347-4065 0021-4922 |
DOI: | 10.35848/1347-4065/ac1dea |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |