Synergistic Effect of Negative Bias Instability and Total Ionizing Dose on SiC MOSFETs
Autor: | Yun Tang, Lei Wang, Xiaowu Cai, Dongqing Hu, Bin Dong, Liqiang Ding, Yuexin Gao, Ruirui Xia, Mali Gao, Shiping Wang, Jianying Dang, Fazhan Zhao, Bo Li |
---|---|
Rok vydání: | 2023 |
Předmět: | |
Zdroj: | IEEE Transactions on Nuclear Science. :1-1 |
ISSN: | 1558-1578 0018-9499 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |