Sub-Micrometer X-ray Tomography of Radiolarians: Computer Modeling and Skeletonization

Autor:	John R. Jungck, Roger C. Wagner, Denis Van Loo
Rok vydání:	2015
Předmět:	Sub micrometer Optics General Computer Science business.industry X-ray Tomography business Skeletonization Geology
Zdroj:	Microscopy Today. 23:18-23
ISSN:	2150-3583 1551-9295
DOI:	10.1017/s1551929515000747
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::531cc344cabbeb598ce9f51192282be1 https://doi.org/10.1017/s1551929515000747 Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu PDF