Evaluation of the impact of defects on threshold voltage drift employing SiO2 pMOS transistors
Autor: | Konstantinos Tselios, Jakob Michl, Theresia Knobloch, Hubert Enichlmair, Eleftherios G. Ioannidis, Rainer Minixhofer, Tibor Grasser, Michael Waltl |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microelectronics Reliability. 138:114701 |
ISSN: | 0026-2714 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |