Atomic Layer Deposited RuO 2 Diffusion Barrier for Next Generation Ru‐Interconnects
Autor: | Youn‐Hye Kim, Minsu Kim, Yohei Kotsugi, Taehoon Cheon, Debananda Mohapatra, Yujin Jang, Jong‐Seong Bae, Tae Eun Hong, Rahul Ramesh, Ki‐Seok An, Soo‐Hyun Kim |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Předmět: | |
Zdroj: | Advanced Functional Materials. 32:2206667 |
ISSN: | 1616-3028 1616-301X |
DOI: | 10.1002/adfm.202206667 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |