Robust inference for nondestructive one‐shot device testing under step‐stress model with exponential lifetimes

Autor:	Narayanaswamy Balakrishnan, Elena Castilla, María Jaenada, Leandro Pardo
Rok vydání:	2023
Předmět:	Management Science and Operations Research Safety Risk Reliability and Quality
Zdroj:	Quality and Reliability Engineering International. 39:1192-1222
ISSN:	1099-1638 0748-8017
DOI:	10.1002/qre.3287
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::50770271e3fabc2136321007e56a66df https://doi.org/10.1002/qre.3287 Zobrazit plný text záznamu Plný text