Radio Frequency Characteristics of InGaAs FE-FETs With Scaled Channel Length

Autor: P. Huang, M. Y. Chen, Q. H. Luc, J. Y. Wu, N. A. Tran, E. Y. Chang
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: IEEE Transactions on Electron Devices. 70:443-448
ISSN: 1557-9646
0018-9383
DOI: 10.1109/ted.2022.3228971
Databáze: OpenAIRE