Soft Error Susceptibility of 7 nm FinFET-based Circuits

Autor:	Brendler, Leonardo Heitich, Zimpeck, Alexandra Lackmann, Kastensmidt, Fernanda Lima, Meinhardt, Cristina, Reis, Ricardo
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2020
DOI:	10.13140/rg.2.2.12128.10245
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4fe012ada10870cdbafe6264ca0ff25d Zobrazit plný text záznamu