Raspberry Pi Zero and 3B+ SEE and TID Test Results

Autor:	Steven M. Guertin, Sergeh Vartanian, Andrew C. Daniel
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2022 NSREC).
DOI:	10.1109/redw56037.2022.9921679
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f619ece373e45ede8068787c80e205b https://doi.org/10.1109/redw56037.2022.9921679 Zobrazit plný text záznamu