Investigation of Ti/CuO interface by X-ray photoelectron spectroscopy and atomic force microscopy
Autor: | Justin Seth Pearson, Anil R. Chourasia, Darius Durant, Dev Raj Chopra, Ritesh Bhakta |
---|---|
Rok vydání: | 2018 |
Předmět: | |
Zdroj: | Surface and Interface Analysis. 51:246-253 |
ISSN: | 0142-2421 |
DOI: | 10.1002/sia.6576 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |