Selective Multiple Capture Test (SMART) XLBIST
Autor: | Peter Wohl, John Waicukauski, Anushree Bhat, Vijay Kumar K S, Rajit Karmakar |
---|---|
Rok vydání: | 2022 |
Zdroj: | 2022 IEEE International Test Conference India (ITC India). |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |