Generalized surface reconstruction and fringe analysis through phase measuring deflectometry

Autor:	Rebecca Su, Jim Schwiegerling
Rok vydání:	2022
Zdroj:	Optical Manufacturing and Testing XIV.
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4d6ba232f6d945cb4a1d90c98adae35c https://doi.org/10.1117/12.2632561 Zobrazit plný text záznamu