Autor:	Muyeed Ahmed, Iulian Neamtiu
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Conference On Artificial Intelligence Testing (AITest).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4cb994d34ebaf8265c77472de1054657 https://doi.org/10.1109/aitest55621.2022.00009 Zobrazit plný text záznamu