Understanding Radiation Damage in Beam-Sensitive TEM Specimens

Autor:	Ray F. Egerton
Rok vydání:	2020
Předmět:	Optics Materials science business.industry Radiation damage business Instrumentation Beam (structure)
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 26:84-86
ISSN:	1435-8115 1431-9276
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4c2c7a42c9875872e9570e5245425ba5 https://doi.org/10.1017/s1431927620013331 Zobrazit plný text záznamu