Robust Off-State TDDB Reliability of n-LDMOS

Autor:	Wen Liu, Dimitris P. Ioannou, Johnatan Kantarovsky, Byoung Min, Tanya Nigam
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
DOI:	10.1109/irps48227.2022.9764573
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4b9e36df29b1f8d966a9661565e89d2d https://doi.org/10.1109/irps48227.2022.9764573 Zobrazit plný text záznamu