Autor:	R. Hodo, K. Sugaya, S. Yamazaki, H. Kimura, Y. Asami, M. Motoyoshi, D. Shimada, N. Kamata, M. Takahashi, T. Murakawa
Rok vydání:	2018
Předmět:	Scale (ratio) Computer science Reliability (statistics) Reliability engineering
Zdroj:	Extended Abstracts of the 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials.
DOI:	10.7567/ssdm.2018.ps-10-01
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4b80faa06299de85c39f464ab0e09cc5 https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.ps-10-01 Zobrazit plný text záznamu