SIMS Performed on Focused Ion Beam Instruments : In-situ Correlative Structural and Chemical Imaging
| Autor: | Jean-Nicolas Audinot, Alexander D Ost, Charlotte Stoffels, Patrick Philipp, Olivier De Castro, Antje Biesemeier, Quang Hung Hoang, Tom Wirtz |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 28:30-31 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|