Total dose measurements by p-channel transistors of ICs

Autor: V. I. Butin, I. V. Butin, A. V. Butina
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 498:012007
ISSN: 1757-899X
DOI: 10.1088/1757-899x/498/1/012007
Databáze: OpenAIRE