SIMS Imaging Performed on Focused Ion Beam - based Platforms
| Autor: | Jean-Nicolas Audinot, Alexander D Ost, Charlotte Stoffels, Patrick Philipp, Olivier De Castro, Antje Biesemeier, Quang Hung Hoang, Tom Wirtz |
|---|---|
| Rok vydání: | 2022 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 28:944-946 |
| ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
| DOI: | 10.1017/s1431927622004135 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|