OS1420-430 In-Situ SEM Tensile Testing of Sacrificial Oxidized Si Nanowires Using Electrostatic Actuated MEMS Device

Autor: Shozo Inoue, Tatsuya Fujii, Ginnosuke Ina, Takahiro Namazu
Rok vydání: 2015
Předmět:
Zdroj: The Proceedings of the Materials and Mechanics Conference. 2015:OS1420-43
ISSN: 2424-2845
DOI: 10.1299/jsmemm.2015._os1420-43
Databáze: OpenAIRE